現場環境における三次元測定機の高精度化に関する研究（平成17年度研究概要）

近年、製造業に対する三次元測定機（CMM）の普及度は極めて高くなってきている。それにともないCMMの設置環境も整った環境ばかりではなく、製造ラインに設置されている場合等、測定機としては過酷な環境に設置されることが多くなってきています。しかし、過酷な環境においても測定精度への要求はますます高くなってきています。そこで、本研究では現場環境においても高精度化が実現できる方法を検討しました。

現在までの研究において、企業等の現場においても応用できる簡易で安定性の高いマシンチェックゲージ（図1）による評価法の提案及び温度変化による座標値のドリフトの原因を解明するとともに、温度ドリフト補正法を提案しております。

さらに、平成17年度はマシンチェックゲージを用いて、直角度及びスケールエラー補正法の提案を行っています。また、不確かさ評価法の1つであるMMS(Multiple Measurement Strategy)を面・線形体に適用し、評価点数とその位置の影響を検討し、要求される測定の不確かさに対応する評価点数の推定を可能にしました。